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计算机、通信、半导体、航空航天/国防、汽车和无线通信等几乎所有电子领域的设计和测试团队,都在进行复杂性日益增加的硬件设计。因此,在编写技术指标时必须将测试与测量需求考虑在内。否则,技术将永远也无法通过测试,达到技术指标的水平。全球领先的测试测量公司安捷伦科技在其2009年数字测量论坛(ADMF)上充分展示了技术创新在其发展历程中所扮演的重要角色及重要的创新技术。ADMF 2009的主要议题包括:用于测试HDMI、USB 3.0、PCI-E、DisplayPort等标准的去嵌入(De-embeddin