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1 1月1 3日,由《电子产品世界》杂志社与中电会展信息与传播有限公司共同主办、中国电子学会电子测量与仪器分会指导的"首届仪器仪表器件选型技术研讨会"在上海第82届全国电子展上召开。本次研讨会以"助力中国创造的高性能测试仪器"为主题,邀请了国内外半导体器件及电子测试仪器领先企业,与大家共同探讨如何借助半导体器件实现高性能测试仪器的设计与实现。在开幕致辞中,中国电子器材总公司副总经理陈雯海谈及主办会议的意义时强调,更希望借助这一会议,能够帮助国内的电子测试仪器企业在展示自己产品的同时,