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由Philips引进的PW 1700 X射线衍射仪织构测量系统只能用反射法，按螺旋线扫测极图数据，测绘极角α≤85°的不完整极图。经功能开发后，建立了织构分析测算系统，织构分析应用软件包，包括不完整极图测量与ODF(取向分布函数)计算，回算全极图与反极图．可彩色屏显考贝，并能进行织构的定量分析，适用于立方和六方品系多品织构材料分析，近两年应用表明，软件功能优异。