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用能量50-110keV的N离子在低于80℃温度下注入CVD法合成的金刚石薄膜后,分别用X射线光电子谱、红外谱和拉曼谱检测注入后的薄膜中是否形成了C-N化合物。结果表明注入后的薄膜中存在有3种化学键态的C-N化合物,且低能离子注入更有利于C-N化合物的形成。由于在注入区内形成了大量的C-N单键,这有利于β-C3N4的合成。对C-N化合物薄膜的场发射特性也做了研究。