应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路设计

• 作 者: 王雪萍 曹靓
• 机 构: 中科芯集成电路有限公司
• 出 处: 电子与封装
• 发表日期: 2019年10期
• 关键词: TMR I/O 抗辐照 FPGA TMRI/Oradiation-tolerantFPGA

针对工业控制、航空航天等多种复杂的电磁辐射环境中对大规模FPGA器件及高速数据传输的迫切需求,设计了一种可应用于抗辐照FPGA的多标准I/O电路。该I/O电路中输入/输出寄存器均采用三模冗余(TMR)技术进行了抗辐照加固,能够支持14种电平标准,实现宽电压范围调节。该抗辐照FPGA抗单粒子翻转(SEU)大于37 MeV·cm2/mg。仿真及测试结果表明,该I/O电路满足设计要求。