【摘 要】
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用磁控溅射方法在Si衬底上制备了Al掺杂Mg2Si薄膜,通过X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)和分光光度计研究了掺杂含量对Mg2Si薄膜组分、表面形貌、粗糙度及光学带
【机 构】
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贵州大学大数据与信息工程学院新型光电子材料与技术研究所,贵州师范大学物理与电子科学学院
【基金项目】
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国家自然科学基金,61264004贵州省自然科学基金,[201412052,[2013]2209贵州省国际科技合作项目,[2013]7003贵州大学研究生刨新基金,2016068