A Genetic Algorithm for Simultaneous Determination of Thin Films Thermal Transport Properties and Co

• 作 者: Zhengxing HUANG Zhen＇an TANG Z
• 机 构: DepartmentofElectronicEngineering,SchoolofMechanicEngineering,DepartmentofEngineeringMechanics
• 出 处: 材料科学技术学报：英文版
• 发表日期: 2006年3期
• 关键词: 薄膜 热传递性质 接触热阻 遗传算法 同时测定 Thin film Thermal transport properties Thermal contact r
• 基金项目: The authors thank the financial supports from the National Natural Science Foundation of China under Grant Nos. 59995550-5 and 90207003.

一个基因算法(GA ) 被学习同时决定热运输性质和在厚底层上扔的薄电影的接触抵抗。Apulsed 相片热反射(PPR ) 系统为大小被采用。GA 被用来提取热性质。大小在硅底层上在不同厚度的 SiO_2 薄电影上被执行。结果证明伴有 PPR 系统的 GA 为底层上的薄电影的热性质的同时的决心是有用的。