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目的①测定无龋组、龋病低危组和龋病高危组幼儿腭粘膜细胞内钙离子的荧光强度；②分析细胞内钙离子荧光强度和患龋状况的关系。对象：50名4—5岁幼儿按患龋状况分为三组，无龋组22例（dft=0且CSI=0）、龋病低危组12例（0〈dft〈5且0〈CSI〈10）、龋病高危组16例（CSI≥10且dft≥5）。方法刮取受试幼儿腭粘膜表层脱落细胞，以钙离子荧光指示剂Fluo-3染色，用激光扫描共聚焦显微镜测定细胞内钙离子的荧光强度。结果①无龋组幼儿腭粘膜细胞钙离子荧光强度高于有龋组幼儿腭粘膜细胞内钙离子荧光强度，两组