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采用单光束Ｚ扫描技术测量了ＧａＡｓ－ＳｉＯ２复合薄膜的光光折射特性，结果表明：在１０＾４Ｗ／ｃｍ＾２的辐射光强作用下，复合薄膜的光吸收和光折射表现出明显的非线性特征，根据Ｚ扫描测量理论算得三阶非线性折射率系数和非线性光吸收系数分别为１０＾－６ｃｍ＾２／Ｗ；和１０＾－１ｃｍ／Ｗ量级。运用量子点模型对三阶光学非线性响应增强的机制进行了讨论。