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为了研究电老化（ETA）和加速水树老化（AWTT）对交联聚乙烯（XLPE）绝缘理化特性的影响,分别对ETA和AWTT的实际电缆试样进行红外光谱（FTIR）、X射线衍射（XRD）和热质量分析（TG）测试,分析其理化特性随着老化的变化规律。建立了AWTT的微观模型,从微观形态变化、陷阱的形成角度对老化机理进行了深入分析。结果发现：ETA和AWTT试样绝缘内R1R2CCH2、—OH键均出现上升趋势,AWTT试样羟基增长速率大于ETA试样,而两种老化过程中双键的增加速率相当;ETA试样电缆绝缘结晶度先上升后下降