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本文将阐明IEEE716C/ATLAS自动测试环境下数字测试能力。本文描述了关于716C/ATLAS适合在不同级别的组件，特别是重点在LRU/WRA级别上进行数字测试的问题，在项目涉及把LASAR数据二次处理进一个现代的C/ATLAS环境中时，作者描述了这些问题。本文对自动测试界说明了使用C/ATLAS执行数字测试是可能的。说明了在与传统的数字测试环境比较时，IEEE标准方案执行得很好，被描述的优点（如可移植性，重宿主能力）和缺点（如性能）可使最终用户对IEEE的标准做出有见地的决策。本文所论述的工作是基