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以 2个杏品种幼果为试材 ,研究了低温及INA细菌影响下叶绿素荧光参数的变化。结果表明 ,低温胁迫降低了杏幼果PSⅡ潜在活性 (Fv/Fo)、原初光能转化效率 (Fv/Fm)和荧光光化学猝灭系数qP ,提高了荧光非光化学猝灭系数 qN。即使光合电子传递的量子产额下降 ,INA细菌能加剧低温胁迫的破坏程度 ,使受害温度由- 4℃升高到 - 2～ - 3℃ ,是诱发幼果霜冻害的一个重要因素。另外 ,叶绿体PSⅡ活性中心的受害程度与品种及幼果大小有关。