单电流注入的三维MREIT快速重建及实验

• 作 者: 李刚 陈瑞娟 郝丽玲 周梅 林凌
• 机 构: 精密测试技术及仪器国家重点实验室（天津大学）
• 出 处: 天津大学学报
• 发表日期: 2013年08期
• 关键词: 磁共振电阻抗成像 三维成像 图像重建 电导率 magnetic resonance electrical impedance tomography three
• 基金项目: 国家自然科学基金资助项目（30973964）.

磁共振电阻抗成像(MREIT)是将磁共振成像(MRI)与传统电阻抗成像(EIT)技术相结合的一种电导率成像技术,通过提供成像体精确的几何信息与成像体内部的磁通密度值,改善了电阻抗成像的病态性,使得电导率图像的分辨率显著提高.针对MREIT系统的快速成像问题,在分析磁共振电阻抗成像的数学模型和正逆问题的基础上,提出利用单次电流的磁通密度分量即可进行电导率图像重建的方法,缩短了测量时间,并降低了电极间的电磁干扰;将灵敏度矩阵法扩展到三维MREIT,采用半解析法计算灵敏度矩阵,使得图像重建速度得到提高;并