短暂脑缺血发作与磁共振弥散成像

• 作 者: 徐萍 张文秋
• 机 构: 鞍钢长甸医院脑血管病科,鞍钢矿山公司东矿医院影像科 114005,114005
• 出 处: 中国临床神经科学
• 发表日期: 2007年02期
• 关键词: 短暂脑缺血发作 弥散成像 磁共振 责任病灶 影像学 脑梗死 颈内动脉 转归 症状持续时间 缺血性脑卒中

短暂脑缺血发作(TIA)可导致部分患者进展为脑梗死。本研究针对113例短暂脑缺血发作患者的MRI影像学特点,探讨TIA发作转归的规律。资料与方法病例材料:132例符合TIA诊断的患者作为研究对

A transient ischemic attack (TIA) can lead to some patients developing cerebral infarction. In this study, 113 cases of transient ischemic attack in patients with MRI imaging features to explore the rule of the outcome of TIA. Materials and Methods Case Materials: 132 patients eligible for TIA diagnosis were included in the study