新生儿缺氧缺血性脑病42例随诊分析

• 作 者: 张美云 冯玉英
• 机 构: 山西省阳泉市阳煤集团总医院儿科
• 出 处: 山西医科大学学报
• 发表日期: 2001年6期
• 关键词: 新生儿缺氧缺血性脑病 HIE 新生儿窒息 CT诊断 随诊

目的了解新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)远期生存质量.方法对HIE患儿定期随诊头颅CT、生长发育、神经行为及智力.随诊时间最短3年,最长5年.结果发育正常34例占81%(34/42),后遗症包括:脑性瘫痪、继发性癫痫、智力落后、运动性语言发育迟缓,后遗症发生率为19%(8/42).结论 HIE对小儿远期生存质量的影响主要表现在神经精神发育方面.动态进行头脑CT追踪检查对早期评估及定期随诊,指导治疗有较大意义.