论文部分内容阅读
同时具备单模和多模测试功能的小型光时域反射计
【出 处】
：
电子产品世界
【发表日期】
：
1996年3期
其他文献
近年来，现场可编程门阵列（ＦＰＧＡ）的应用日益广泛。从众多的ＦＰＧＡ产品中选择最适合的应用器件，就要求电路设计者对各种芯片（ＦＰＧＡ）有足够多的了解，其中ＦＰＧＡ的内部结构是一项重要的参考指标。ＦＰＧＡ的内部结构主
<正>PC的BIOS包含一个特殊的“伪”中断(INT 1CH),除非为它提供一个程序,否则它不进行任何操作.在起动时,中断向量指向IRET(中断返回)指令.当调用中断时,它就返回(见图).INT
<正> 自动缺陷检查技术正在日益取代 人们的视觉检查。对无缺陷部件 的需求推动了检查工序的发展, 从只测量少量样品部件进展到对部件 进行 100％全面检查,并用部件容差做为基
前些年,印度有家化工厂发生爆炸泄漏事故。当地的许多居民跑去看热闹,结果许多人的眼睛瞎了,不少人莫名其妙地残废了。这是多么惨痛的教训!为什么会这样?就是因为他们不懂得
<正> 在对“真正的”功耗进行有效测量时,瓦特计必须精确,而不管所 监控的负载所消耗的电流的无功分量和dc分量有多大。此外,有时必须同时监视和总计来自多路ac相位(在一般的
节省大小比较中的逻辑电路Ｃｙｐｒｅｓｓ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ公司Ｃｈｒｉｓ Ｊｏｎｅｓ设计人员常常要进行可编程逻辑器件的大小比较，以完成地址译码。他们要求乘积项数随着待比较的位数的增加而呈指数增大，但是，现在有一种诀窍控