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以光折变晶体KNSBN为研究对象,从理论和实验上仔细研究了标准的Z轴扫描技术,发现材料导致的光散射对测量结果有影响.因此把Z-扫描技术应用于光散射比较强的材料时,在进行Z-扫描测量时需排除光散射的影响.
光散射对Z-扫描的影响
【摘 要】
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以光折变晶体KNSBN为研究对象,从理论和实验上仔细研究了标准的Z轴扫描技术,发现材料导致的光散射对测量结果有影响.因此把Z-扫描技术应用于光散射比较强的材料时,在进行Z-扫
【机 构】
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中山大学光电材料与技术国家重点实验室
【出 处】
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中国激光
【发表日期】
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2004年期
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