大鼠原代神经细胞培养体系放射性损伤敏感性及机制研究

• 作 者: 高晨 朱文霞 姚鹏飞 王洪运 王向阳 刘玉虎
• 机 构: 兰州军区兰州总医院安宁分院神经外科,兰州军区兰州总医院安宁分院创伤外科,兰州军区兰州总医院安宁分院胸外科
• 出 处: 临床神经外科杂志
• 发表日期: 2015年5期
• 关键词: 放射性损伤 共培养 神经保护 活性氧

目的探讨大鼠原代神经细胞培养体系对放射性损伤敏感性及其损伤机制。方法建立大鼠原代星形胶质细胞-神经元共培养体系,原代神经元培养体系以及原代星形胶质细胞培养体系并分别随机分为对照组（始终正常培养）,放射损伤组（对细胞实施X射线单次照射）。72 h后,对比评价不同组细胞死亡率、凋亡以及活性氧（ROS）含量变化。结果 X射线照射引起原代神经元培养体系细胞死亡率[（68.0±5.2）%]及ROS含量（103.6±8.8）升高最为明显。共培养体系细胞损伤较轻,星形胶质细胞培养体系则无明显损伤。原