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测试了Ｈｏ：ＹＡＧ和Ｈｏ：ＹＬＦ晶体的吸收谱和荧光谱，计算Ｈｏ＾３＋离子的振子强度参数ｆＪ，Ｊ１＾［ｃ］，辐射跃迁几率ＡＪ，Ｊ１，荧光辐射寿命τＪ＾［ｃ］，并与实验测得的荧光辐射寿命τＪ＾［ｃ］及振子强度的实验值ｆＪ［ｃ］比较。应用跃速率方程计算得出对应２．１μｍ的荧光强度最大的掺杂离子Ｈｏ＾３＋的最佳浓度分别为－２．５％和－１％左右。讨论了ＹＡＧ和ＹＬＦ作为掺Ｈｏ＾３＋的基质晶体优点。