克隆外显子探针反向斑点杂交检测DMD基因缺失

• 作 者: 杜文津 万琪 等
• 机 构: 西安第四军医大学西京医院神经内科710032
• 出 处: 脑与神经疾病杂志
• 发表日期: 2002年1期
• 关键词: 探针 反向斑点杂交 DMD 基因缺失 肌营养不良症 克隆 Probes Hybridization DND Gene deletions

目的：制备检测DMD基因常见易缺失外显子的核苷酸探针，通过反向斑点杂交试验验证其特异性，为初步研制DMD基因诊断芯片作准备。方法：从健康人外周静脉血白细胞提取基因组DNA，应用经典18对引物对DMD基因常见易缺失外显子进行PCR扩增。将扩增产物与pGEM@-T Easy载体连接，转化E.coli JM109感受态细胞。克隆目的片段，并作测序鉴定。以此为探针进行反向斑点杂交试验。结果：序列分析表明，克隆片段代表DMD基因18个常见易缺失外显子；以这些片段为探针进行反向斑点杂交，其结果与PCR相符。结论：克隆