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针对目前工业控制领域应用的嵌入式测控产品大多存在技术落后、通用性差的问题，提出基于ARM和DSP的通用嵌入式测控系统开发平台，将DSP的强大运算能力和新型单片机ARM处理器的强大控制能力结合在一起，能满足大多数中低速嵌入式测控系统的应用要求，由于其良好的通用性，在多个项目应用中均取得了较好的效果。