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成像标定法测量半导体激光器慢轴远场分布
成像标定法测量半导体激光器慢轴远场分布
来源 :光学仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jukai9751
【摘 要】
:
利用远场成像及标定对比方法,建立了半导体激光器慢轴远场分布的CCD测量系统.介绍了测量的原理和测量系统的组成,并给出了半导体激光器慢轴远场分布的测量结果.实验结果表明,
【出 处】
:
光学仪器
【发表日期】
:
2003年6期
【关键词】
:
半导体激光器
远场分布
CCD测量
成像
标定
laser diode
far-field distribution
CCD measurement
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利用远场成像及标定对比方法,建立了半导体激光器慢轴远场分布的CCD测量系统.介绍了测量的原理和测量系统的组成,并给出了半导体激光器慢轴远场分布的测量结果.实验结果表明,该方法实时性好,测量快速、准确,人为误差因素少,适合仪器化.
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