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目前市场上通用的Nor Flash存储器,每个擦写单元的循环擦除/编程寿命一般在10万次左右,超过该寿命后Nor Flash将工作在不稳定状态,甚至造成信息数据读写失效。本文详细阐述了一种基于热点区域地址映射的Nor Flash动态损耗均衡方法。该方法通过设计特定的Nor Flash硬件结构,结合扇区内地址映射的方式,可以有效提升flash热点区域的擦写寿命。