BESⅢμ子探测器前端板FPGA的辐射损伤实验

• 作 者: 陈一新 梁昊 薛俊东 侯龙 刘宝莹 刘强 虞孝麒 周永钊
• 机 构: 中国科学技术大学近代物理系,中国原子能科学研究院核物理研究所
• 出 处: 高能物理与核物理
• 发表日期: 2004年期
• 关键词: FPGA 辐射损伤 单粒子事例翻转

研究了Altera公司ACEX 1K系列现场可编程逻辑门阵列(FPGA, Field Programmable Gate Array)EP1K30TC144-3在γ射线和14MeV,2.5MeV中子照射下的辐射影响,对得到的试验结果给出了分析和评估.对于在BESⅢμ子鉴别器读出电子学系统上应用ACEX 1K系列FPGA的可行性给出了结论.