泛华成功参加第3届“中国PXI技术和应用论坛”

• 出 处: 测控技术
• 发表日期: 2006年6期
• 关键词: PXI技术 现场应用 美国国家仪器有限公司 论坛 中国 电路板测试 系统演示 谐波分析仪 测控技术 低压电器

北京中科泛华测控技术有限公司成功参加了由美国国家仪器有限公司（NI）主办的第3届“中国PXI技术和应用论坛——PXITAC 2006”。在此次论坛中，公司资深开发工程师徐晨冬做了题为“PXI在低压电器测试领域的应用”的演讲，为配合演讲还播放了系统现场应用的录像和照片。公司展位上还为广大用户带来3套测试系统的应用演示：电路板测试系统演示、机器视觉尺寸在线检测系统演示、三相谐波分析仪。