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在中国原子能科学研究院HI-13串旬加速器上建立了用Q3D磁谱仪动量分析和△E-E粒子分辨对材料表面进行高分辨的弹性反冲探测分析技术。用100MeV^127I对C/LiF多层样品的深度分布分析表明,表面分辨达到1.2nm。所建立的△E(气体)-E(半导体)望远镜探测器可同时分析从轻至中重的所有元素。实测了新光电材料GaN,La2sRcUO4超导膜和新超硬材料C3N4(Si)等样品。