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该文对用动态MOCVD工艺所制膜厚分别为1.0μm和3.5μmJc值分别为5.5×10^3A/cm^2和2.1×10^3A/cm^2(78K,oT)的两个YBCO/Ag超导带样品,以EDX,XRD和SEM对其沉积层表面的成分与结构作了分析和研究,对后者还以SEM和EDX对其断面成分进行了分析。以XRD和SEM分析观察了经地写前者相同的热处理的Ag基带的表面状况。由上述分析结果综合讨论了基体的表面状