粉末压片-X射线荧光分析钽钛钨铁合金中钽钛钨铁

• 作 者: 石爱霞 刘百利
• 机 构: 宁夏东方钽业股份有限公司
• 出 处: 金属材料与冶金工程
• 发表日期: 2009年6期
• 关键词: 粉末压片 X-射线荧光 钽钛钨铁 主次成分 powder press slice Xray fluorescence spectrometry Ta Ti W

介绍了粉末压片-X射线荧光光谱法测定CK料中钽钛钨铁含量的分析方法。根据钽钛钨铁样品中主次成分含量范围，用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的校准样品；以标样中Ta、Ti、W、Fe元素的荧光强度和含量所具有的对应关系，并考虑到各元素之间的吸收与激发效应，经过校正拟合出Ta、Ti、W、Fe元素的实际工作曲线。该方法与对照样品各元素值符合较好，与其他方法测定结果有良好的一致性。方法的精密度RSD（n=10）在0．04％～0．90％范围内。