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采用溶胶-凝胶工艺与原位生长技术，制备了ZnSe／SiO2复合薄膜。X-射线衍射（XRD）分析表明，ZnSe／SiO2复合薄膜中ZnSe晶体为闪锌矿（立方ZnS）。利用椭偏光谱仪测量了不同ZnSe含量的ZnSe／SiO2复合薄膜的椭偏参数△与波长λ的色散关系，采用Maxwell-Garnett（MG）有效介质理论对薄膜的光学常数、厚度、气孔率、ZnSe的浓度进行了计算。结果表明，单层ZnSe／SiO2薄膜厚度在300nm以上时，随着溶胶体系Zn^2＋、SeO4^2-浓度的增加而增大，气孔率在30％左右，Z