双光路膜厚控制仪

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一、绪言随着祖国光学工业和电子工业的迅速发展,对多层膜的镀制和控制,提出了更高的要求。为了能够精确、方便地控制多层膜的沉积厚度,填补真空镀膜沉积控制上的一项空白,1971年北京仪器厂在北京工业学院协助下,试制成功了 MKG—1型双光路膜厚控制仪。用光电方法控制膜层厚度,目前有下列三种主要方法: I. INTRODUCTION With the rapid development of optical industry and electronic industry in the motherland, higher requirements have been put forward for the plating and control of multilayer films. In order to be able to precisely and conveniently control the deposition thickness of the multi-layer film and to fill a gap in vacuum deposition control, the Beijing MKG-1 Dual Film Thickness Controller was successfully manufactured with the assistance of Beijing Institute of Technology in 1971 . With optoelectronic control of film thickness, there are currently the following three main methods:
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