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目的
应用高分辨率MR氢谱检测大鼠脑胶质瘤细胞系C6的放射损伤并初步探讨其机制。
方法以C6细胞为研究对象,应用MR氢谱检测细胞内多种代谢物浓度;彗星实验检测DNA损伤;流式细胞术检测周期进程及凋亡率;克隆形成实验观察克隆形成率并初步探讨放射损伤作用机制。采用单因素方差分析,Pearson法相关分析。
结果照射剂量由0 Gy增加为1、5、10、15 Gy时,DNA损伤逐渐加重且有剂量依赖性(P=0.000~0.690), G1期所占百分比显著增加(P=0.026~0.749),凋亡率逐渐上升(P=0.000~0.000),克隆形成率逐渐降低(P=0.000~0.004);同时,代谢物比值Lac/Cr逐渐减少(P=0.000~0.015),与DNA损伤参数(尾长、彗尾中DNA含量、尾矩)呈线性负相关(r=-0.971、-0.998、-0.995),与凋亡率呈线性负相关(r=-0.978)。
结论MR氢谱检测发现C6细胞照射后Lac/Cr比值变化与肿瘤细胞凋亡有明显相关性,MR氢谱具有预测脑胶质瘤放射损伤的潜力。