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用激光光束直接照射到测试表面，再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹，条纹图解析为测量点的位移量和变形量，进而得到其离面位移，在优化算法的时候采用π位相技术获取另一个π相移的变形条纹图像，将面内位移与离面位移分离，为了消除零级分量，让投影光栅移动1／2个周期。通过Matlab和四步位相算法给出了三维空间模型，得出变形后物体的离面位移数据。实验仿真数据表明其能够稳定地测量物体变形场三维分量，误差较低。