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在教育合作协议（EPA）的资助下，美国空军实验室（AFRL）将一个高级材料分析系统赠与霍华德大学纳米科学和工程研究所（HNF）。二次离子质量光谱测定（SIMS）系统能够精确分析材料表面和深层的化学成分，能够使利用此设备的学生、教师和其他研究人员识别并量化各种类型的材料．包括杂质、污染物和掺杂物。AFRL的先进SIMS技术可以大大增强大学分析材料的能力，提高研究所的研究开发潜能，扩展在自然科学、数学及工程领域的培训机会。