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电子元器件的小型化对封装材料的热导率提出更高要求.本文利用超高压熔渗法在1200°C 和5GPa 的工艺条件下制备了金刚石体积分数达90%的铜/金刚石复合材料,测得热导率为662Wm-1K-1,高于其它方法所制备铜/金刚石复合材料的热导率.SEM、EDS 和XRD 分析结果表明,铜/金刚石复合材料的界面结合良好,金刚石和铜之间出现过渡层,并发现部分金刚石相互连通.