用分子自由振动固有频率预测阴离子表面活性剂临界胶束浓度

• 作 者: 仇明华 曹晨忠 赵立刚 罗娟
• 机 构: 湖南科技大学化学化工学院
• 出 处: 应用化学
• 发表日期: 2004年3期
• 关键词: 阴离子表面活性剂 临界胶束浓度(CMC) 固有频率 QSPR anionic surfactant critical micelle concentration
• 基金项目: 湖南省重点学科资助项目 (湘教通 [2 0 0 1] 179号 )

根据机械振动理论的简谐振动模型，将分子作为多自由度振动的弹簧-质量系统处理，计算了40个不同类型的阴离子表面活性剂分子的振动固有频率。用其中的基频(ωo)和总频(∑ωi)作为分子结构信息参数，建立了4种类型的表面活性剂的定量临界胶束浓度-结构相关性(QSCMCR)预测模型：log CMC=A0+A1ωo+A2∑ωi，其相关系数r均大于0．99。由该模型得到的回归方程用于上述40种表面活性剂分子临界胶束浓度(CMC)的计算，平均绝对误差仅为0．0588，平均相对误差仅为0．0316。