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新闻发布——2013年11月——由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)举办的"NIDays全球图形化系统设计盛会"中国站于11月14日在上海国际会议中心圆满落幕。此次NIDays以"图形有边,系统无界"为主题,向近千位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体全方位展示了NI集成软硬件的图形化系统设计平台在加速测试测量和控制系统开发方面的优势。