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采用溶胶一凝胶法合成Ce0.87Sm0.13-xPrO2-δ（x=0.00，0.01，0.02）氧化物，通过X射线衍射、拉曼光谱、场发射扫描电镜对氧化物进行结构表征，利用交流阻抗谱测试电性能，并讨论了掺杂Pr对Ce0.87Sm0.13O2-δ微观结构和电性能的影响。结果表明，掺入少量Pr^3＋可减少或消除晶粒表面和晶界处的坑痕或孔隙，增加材料的致密性，从而降低材料的晶界电阻和电极界面电阻以及晶界电阻在总电阻中所占的比例，提高了材料的电导率。