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1.06μm连续激光辐照TiO2/SiO2薄膜元件的损伤效应研究

来源 :激光技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：LogiCrown

【作 者】

：

周维军 袁永华 张大勇 桂元珍 江继军

【出 处】

：

激光技术

【发表日期】

：

2006年02期

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