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从干涉条纹信息中提取出的相位信号能够用于测量光学合成孔径阵列中各子孔径之间的相对光程差。相位解缠是恢复真实相位的关键步骤。本文借鉴一种并行抗噪解缠算法,提出以差分值的极性变化作为判据进行波形整形,同时结合子孔径相对光程差标校测量过程中的干涉条纹数据,开展预处理和相位解缠,最后获得均方根值约16 nm的解缠精度。