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X射线粉末衍射法已有很长的历史。在近十至十五年内,计算机应用的结果,使得粉末法在粉末图谱指标化和晶胞参数精细测定等方面均有较大的进展,可以取得更多更深的结构信息。粉末数据现代计算方法的基础是粉末图谱的分辨率和衍射角测量的精确度。怎样获得高质量的粉末数据?采用纪尼叶聚焦照相技术看来是一种很好的手段。