几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户：Tianxudong

【摘要】

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在分析全扫描内建自测试(BIST)较高测试功耗的基础上,总结出几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术方案,包括减少待测电路(CUT)输入端的翻转次数、简化线性反馈移位寄存器(LFSR)结构

【作者】

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成立王振宇张兵朱漪云范木宏

【机构】

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江苏大学电气信息工程学院

【出处】

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半导体技术

【发表日期】

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2005年10期

【关键词】

：

超大规模集成电路内建自测试系统芯片低功耗技术优势 VLSI BIST SOC low power consumption technology

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在分析全扫描内建自测试(BIST)较高测试功耗的基础上,总结出几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术方案,包括减少待测电路(CUT)输入端的翻转次数、简化线性反馈移位寄存器(LFSR)结构、部分扫描低功耗BIST方法等.分析结果表明,这些方法不但在保证测试覆盖率的条件下,降低了测试平均功耗和峰值功耗,而且综合应用这几种方法将会使系统功耗指标达到最佳.

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