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目的 测量正常(牙合)成年人硬腭部骨质厚度,以期为腭部支抗种植体的安全植入提供基础数据.方法 选择32名正常(牙合)、无正畸治疗史的成年人(男性16人,女性16人),年龄(30.1±6.5)岁.拍摄锥体束CT(cone beam computerized tomography,CBCT),以经过切牙孔后缘的冠状线为基线,向后与(牙合)平面垂直、与基线平行、在正中矢状线上每隔3 mm对硬腭部进行重建,选取7个与(牙合)平面垂直的冠状面,第1层为切牙孔后缘冠状面,第7层为距离切牙孔后缘18 mm的冠状面.在每个冠状面上确定位于正中矢状线上的腭中缝点为M点,左右侧硬腭水平部最外缘点为D点,均分M点与D点连线为4等份,从内到外依次命名为A、B、C点.测量各点对应处硬腭部骨质厚度.结果 硬腭部第1～7层骨质厚度的差异有统计学意义,骨质厚度从前向后逐渐递减;最厚处为12.6 mm,位于第1层冠状面D点;最薄处为2.7 mm,位于第7层冠状面B点;第2、3层冠状面骨质厚度最高为10.5 mm,最低为5.8 mm.硬腭部左右两侧骨质厚度差异均无统计学意义(P＞0.05).结论 正常(牙合)成年人硬腭部距切牙孔后缘6 mm内可植入长度为5～10 mm的支抗种植体。