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本文介绍了一种新型的微量元素微区分析方法——同步辐射X射线荧光分析法。讨论了其刻度方法、灵敏度和探测下限、空间分辨率和辐射损伤等。并以高能物理所同步辐射装置上的工作为例,说明了同步辐射X射线荧光分析法在地外物质研究、生命科学、环境科学和地球化学等领域中的应用。对该方法的发展趋势作了展望。
同步辐射X荧光分析法
【摘 要】
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本文介绍了一种新型的微量元素微区分析方法——同步辐射X射线荧光分析法。讨论了其刻度方法、灵敏度和探测下限、空间分辨率和辐射损伤等。并以高能物理所同步辐射装置上的
【机 构】
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中国科学院高能物理研究所中国科学院核分析技术开放研究实验室北京100080
【出 处】
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分析试验室
【发表日期】
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1992年6期
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