论文部分内容阅读
<正> X射线荧光光谱分析是一种简便、快速地进行多元素分析的有效手段之一,它已成功地应用于测定地质样品中的主量和痕量元素。对于地质样品中的主量和痕量元素,解决元素间的基体效应是一个极其重要的问题。本文以RhKα康普顿散射线为内标并以经验系数法进行基体效应校正。此外,还研究了粉末试样直接压片。对谱线重叠和背景的扣除方法进行了试验。用本法测定地球化探样品中二十四个主量和痕量元素,取得了较满意的结果。方法具有简便、快速、成本低等优点,适用于大批量化探扫面样品多元素分析。