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测量大面积高Ｔｃ超导薄膜的超导性能是制备性能良好膜的重要检测手段。文中设计的采用电磁感应法的测量装置为非接触测量，它不会破坏被测样品，而且测试线圈可在薄膜上逐点移动作多点巡回检测，这有利于判断大面积薄膜超导性能的均匀性。被测样品的尺寸可在φ１０ｍｍ到φ３０ｍｍ之间。另外，由于测试线圈输出信号幅度为几十毫伏、无须使用锁相放大器，使测试系统较便宜，易于推广。