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采用溶剂热法，对制备的前驱体进行热处理，最后得到了片状结构的ZnSe纳米材料。然后利用x射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM））和光致发光谱（PL）等测试手段对样品的晶体结构、形貌、微结构和光学性质等进行了表征分析。结果表明制备的ZnSe块状结构是由厚度大约在200～300nm纳米带堆叠而成，其晶体结构为密排六方晶体结构。此外，通过分析反应过程，对片状ZnSe生成过程中的可能的化学反应和片状ZnSe可能的形成机理做了简单的分析。