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【正】 Y2000-62352-399 0018980测试生成与延迟测试=Session 2.2.3:test generationand delav testing[会,英]//1999 IEEE InternationalConference on Computer Design.—399～423(PC)本部分收入4篇论文。题名为:引起定时故障的桥检测,无服延迟故障的可测试性设计,采用动态选择子电路的组合电路用的基于故障模拟测试生成,以及片上系统有效确定性测试用的嵌入处理机。