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【摘 要】
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首次使用磁力显微镜（MagneticForceMicroscope）观察和分析了化学镇CoNiMnP垂直磁记录膜的磁畴结构，讨论了范德瓦尔斯力对MFM成像的影响，并结合膜的形貌和磁滞回线讨论了其作为高
【机 构】
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清华大学现代应用物理系,中国科学院化学所
【出 处】
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磁记录材料
【发表日期】
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1995年1期
【基金项目】
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国家自然科学基金!50201012
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