数据自动处理的轨道式微光点分析仪

• 作 者: 陈秀峰 杨冬晓 沈庆垓 李志能
• 机 构: 浙江大学,浙江大学,浙江大学,浙江大学,
• 出 处: 光电子学技术
• 发表日期: 1987年02期
• 关键词: 轨道式 测量操作 光点尺寸 测量重复性 重复测试 实时测量系统 双缝 空间频率 模数转换 记录设备

为了克服现行微光点分析仪存在的操作困难和测量重复性低的问题,我们研制成数据自动处理的轨道式微光点分析仪。它的结构,不仅使测量操作方便,而且提高了测量数据的重复性,经实测,重复测试的离散度远低于自定指标(±5％),达到±2％以内。

In order to overcome the operational difficulties and low repeatability of existing spotlight analyzers, we developed an orbital spotlight analyzer that automatically processes the data. Its structure, not only makes the measurement easy to operate, but also improves the repeatability of the measured data. The measured repeatability of the repeated test is far less than the self-defined index (± 5%) to within ± 2%.