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随着医学影像技术的发展,尤其是fMRI的发展及应用,对端脑皮质功能定位的要求越来越精确,加之临床对小病灶早期定位诊断的需要,仅限于大体解剖上的脑回、脑叶的划分及功能定位已经不能满足临床的需要及更深入的脑功能研究.80年代的以来,许多学者开始利用断层标本、CT、MRI和SPECT等图像进行端面上的定位研究[1～23],以期实现端脑皮质病变在脑回水平的早期定位诊断和治疗.